公司介绍
CEO 问候语
公司介绍
事业范围
历史
海外代理店
产品介绍
间隙和水平间距工具
平直度测量工具
纳米薄膜
新产品
顾客
A/S申请
报价咨询
主要交易处
乔布斯
聘用指南
招聘公告
应用
MCT系列
MLL
纳米薄膜
通知
新闻
公司介绍
产品介绍
应用
顾客
招聘
通知
CEO 问候语
公司介绍
事业范围
历史
海外代理店
间隙和水平间距工具
平坦度测量工具
Glass Breakage Detector
新产品
MCT系列
MLL
纳米薄膜
客户咨询
主要客户
聘用指南
招聘公告
新闻
产品介绍
测量和传感器专业组
> 产品介绍
>
新产品(开发)
产品介绍
间隙和水平间距工具
平坦度测量工具
Glass Breakage Detector
新产品
新产品
间隙和水平间距工具
平坦度测量工具
Glass Breakage Detector
新产品
新产品(开发)
新产品
生产
纳米薄膜
激光雷达
纳米薄膜厚度测量
产品特征
纳米图案形状
薄膜厚度测量
曲折率
表面粗糙度
产品技术规格
波长范围
: RGB/whith light (可选)
再现性
: < 0.1nm
测量方式
: 线扫描
线尺寸
: 200mm(可选)
线分辨率 >1000
坐标台尺寸
: 可选
测量范围
: 200um X 200um